Reliability related research on plastic IC-packages : a test chip approach : a research in the development of silicon test dies for measurement and comparison of molded IC-package reliability = Een onderzoek gericht op de ontwikkeling van silicium test-chips geschikt voor het meten en vergelijken van de bedrijfszekerheid van plastic IC omhullingen

Author / Creator

Gestel, Henricus Cornelis Josephus Maria van

Available as

Physical